31 Objecttisch zu Stativ Ia der Firma Cai’l Zeiss in Jena. Ib. 301—304; — Beleuchtungsapparat mit herausklappbarem Con- densor und Iris-Cylinderblendung. Ib. 432—440. E. v. Fedorow: Eine neue Methode der optischen Unter suchung von Krystallplatten in parallelem Lichte. T. M. P. M. 1891. XII. 505—509; — Die einfachste Form des Universal tischchens. Z. X. 1895. XXIV. 002—603. H. Laspeyres: Vorrichtung am Mikroskope zur raschen Umwandlung paralleler Lichtstrahlen in convergente. Z. X. 1893. XXI. 25G—257. R. Fuess: Demonstrations - Mikroskop für den minera- logisch-petrographischen Unterricht. L. J. 1894. II. 94—96; — Apparat zur dauernden Kennzeichnung bemerkenswerther Stellen in mikroskopischen Objecten oder Praeparaten. L. J. 1895. I. 280—281. E. Weinschenk: Eine Methode zur genauen Justirung der Nicol’schen Prismen. Z. X. 1895. XXIV. 581 —583. C. L e i s s: Mikroskope und deren wichtigste Nebenapparate für krystallographische und petrographische Untersuchungen. S. A. aus Z. ang. M. 1895. 36. S. E. A. Wülfing: Apparate zur optischen Untersuchung der Mineralien und neue optische Bestimmungen am Diamant und Eisenglanz. T. M. P. M. 1895. XV. 26—28. IX. Krystallographische Bestimmungen mit Hülfe des Mikroskops. M. L. Frankenheim: Chemische und krystallonomische Beobachtungen. P. A. 1836. XXXVII. 637. Craig: Über Messung von Winkeln mikroskopischer Ivrystalle. L. J. 1840. 478. C. Schmidt: Krystallonomische Untersuchungen. Mitau und Leipzig 1846. J. L. Smith: A new form of goniometer for measuring angles of crystals under the microscope. A. J. 1852. XIV. 240—241. F. Pf aff: Über die Messung der ebenen Krystallwinkel und deren Verwerthung für die Ableitung der -Flächen. P. A. 1857. CIL 457—464.
